Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

av

Alvin W. Strong Ernest Y. Wu Rolf-Peter Vollertsen m.fl

, utgiven av: John Wiley & Sons, John Wiley & Sons

Köp här

Läs ett smakprov

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

av

Alvin W. Strong Ernest Y. Wu Rolf-Peter Vollertsen m.fl

, utgiven av: John Wiley & Sons, John Wiley & Sons

Köp här

Läs ett smakprov

Utgivningsår: 20090831 Isbn: 9780471731726 Utgivare: John Wiley & Sons Mediatyp: BB